博曼半导体镀层膜厚仪资料

   2013-10-28 IP属地 广东12
博曼半导体镀层膜厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
行业用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
规格描述
X射线激发系统:垂直上照式X射线光学系统
准直器程控交换系统:可同时装配4种规格的准直器
测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。                         
基本分析功能采用基本参数法校正。                   
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
博曼半导体镀层膜厚仪可检测元素范围:AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 
贵金属检测,如Au karat评价                                         
材料和合金元素分析,
材料鉴别和分类检测                                         
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量 
多达4个样品的光谱同时显示和比较                                        
元素光谱定性分析 
精度高、稳定性好 
强大的数据统计、处理功能 
测量范围宽 
NIST认证的标准片 
全球服务及支持
生产厂商:美国博曼(Bowman)
让客户满意,为客户创造大的价值是金东霖追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图。联系人:舒翠  136 0256 8074  
 
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